当前位置:首页 » 中央单位单一来源政府采购审核前公示
中国科学院物理研究所单一来源采购多探针联合测量系统目征求意见公示
2014年06月19日 15:00 来源: 【打印】
中国科学院申请中国科学院物理研究所多探针联合测量系统采购项目采用单一来源方式采购,该项目拟由 以色列Nanonics Imaging公司 提供(或承担)。现将有关情况向潜在政府采购供应商征求意见。征求意见期限从2014年6月20日起至2014年6月26日止。
潜在政府采购供应商对公示内容有异议的,请于公示期满后两个工作日内以实名书面(包括联系人、地址、联系电话)形式将意见反馈至财政部国库司政府采购管理一处(联系电话:01068552049;01068552387)和中国科学院计划财务局(地址:北京市西城区三里河路52号,联系人:马锋,联系电话:68597367)。
附:专家论证意见及专家姓名、工作单位、职称;
2014年6月19日
单一来源采购专家论证意见表
时间:2014年3月17日
中央一级预算单位 | 中国科学院 | |||
使用单位 | 中国科学院物理研究所 | |||
项目名称 | 多探针联合测量系统 | |||
项目金额 | 360万元 | |||
专家1论证意见 |
该单位拟采购的多探针联合测量系统用于开展新型量子信息结构的微弱信号的测量、多场操控以及基本物性的研究工作,需要测量小量子系统的纳米尺度的表面形貌结构(AFM、STM、近场光学SNOM),光电/电光测量以及研究局域温度、电势、电容分布等,对测量的精度和综合性要求很高。该类设备国内目前无法生产,世界上也只有以色列的Nanonics Imaging公司生产的产品能满足实验所需的技术指标要求(Z方向分辨率~0.1nm,热成像分辨率~100nm,样品台变温环境~-20~300°C等),因此只能采用单一来源方式采购进口产品。 |
|||
专家姓名 | 赵永刚 | 职 称 | 教授 | |
工作单位 | 清华大学 | |||
专家2论证意见 |
拟采购的多探针联合测量系统用于该单位开展新型量子信息结构的微弱信号的测量、多场操控以及基本物性的研究工作,需要测量小量子系统的纳米尺度的表面形貌结构(AFM、STM、近场光学SNOM),光电/电光测量以及研究局域温度、电势、电容分布等,对测量的精度和综合性要求很高, 如Z方向分辨率~0.1nm,热成像分辨率~100nm,样品台变温环境~-20~300°C等。该类设备国内目前无法生产,世界上也只有以色列的Nanonics Imaging公司生产的产品能满足上述所需的技术指标,因此只能采用单一来源方式采购进口产品。 |
|||
专家姓名 | 章晓中 | 职 称 | 教授 | |
工作单位 | 清华大学 | |||
专家3论证意见 |
该单位拟采购的多探针联合测量系统用于测量小量子系统的纳米尺度的表面形貌结构(AFM、STM、近场光学SNOM),光电/电光测量以及研究局域温度、电势、电容分布等,是开展新型量子信息结构的微弱信号的测量、多场操控及物性研究工作的关键设备,对测量的精度和综合性要求很高。该类设备国内目前无法生产,世界上也只有以色列的Nanonics Imaging公司生产的产品能满足实验所需的技术指标要求(Z方向分辨率~0.1nm,热成像分辨率~100nm,样品台变温环境~-20~300°C等),因此只能采用单一来源方式采购进口产品。 |
|||
专家姓名 | 张清明 | 职 称 | 教授 | |
工作单位 | 人民大学 | |||
专家4论证意见 |
拟采购的多探针联合测量系统用于该单位测量小量子系统的纳米尺度的表面形貌结构(AFM、STM、近场光学SNOM),光电/电光测量以及研究局域温度、电势、电容分布等,是开展新型量子信息结构的微弱信号的测量、多场操控及物性研究工作的关键设备,对测量的精度和综合性要求很高, 如Z方向分辨率~0.1nm,热成像分辨率~100nm,样品台变温环境~-20~300°C等。该类设备国内目前无法生产,世界上也只有以色列的Nanonics Imaging公司生产的产品能满足上述所需的技术指标,因此只能采用单一来源方式采购进口产品。 |
|||
专家姓名 | 马星桥 | 职 称 | 教授 | |
工作单位 | 北京科技大学 | |||
专家5论证意见 |
拟采购的多探针联合测量系统的采购程序符合法律相关规定,因此只能采用单一来源方式采购进口产品。 |
|||
专家姓名 | 昌孝润 | 职 称 | 律师 | |
工作单位 | 北京市天沐律师事务所 |
相关文章